Misura del Coefficiente di Hall utilizzando il 4200A-SCS
Utilizzando quattro SMU ed i test integrati, le misure van der Pauw sui materiali semiconduttori sono facilmente ottenute con l’analizzatore di parametri 4200A-SCS.
Misura di Van der Pauw utilizzando il 4200A-SCS
Utilizzando quattro SMU ed i test integrati, le misure van der Pauw sui materiali semiconduttori sono facilmente ottenute con l’analizzatore di parametri 4200A-SCS.
Metodi di misura di resistività van der Pauw e di tensione di Hall utilizzando il test parameter Keithley 4200A-SCS
La ricerca sui materiali semiconduttori ed il test dei dispositivi spesso comporta la misura della resistività e della tensione di Hall di un campione.
Giakova ed MCB Electronics: soluzioni personalizzate per la conversione di potenza
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Keithley Kickstart Software
È il momento di provare il nuovo software Keithley KickStart! Hai bisogno di un rapporto dettagliato sulle misurazioni? Vuoi tener traccia di tutte le tue misurazioni dal portatile?
Data Acquisition e Data Recorder
Gli strumenti attualmente disponibili per osservare e registrare delle forme d’onda possono essere suddivisi in tre categorie: Oscilloscopi, Data logger e Memory HiCorder.
Controllo della strumentazione da remoto con TEKSCOPE
Il TEKSCOPE nasce proprio dall’idea di offrire un software che permetta di controllare la strumentazione da remoto (e non solo) mediante il nostro PC.
Giakova è su ARIBA
Sul portale ARIBA è operativo il contratto GIAKOVA-FERSERVIZI (eGPA CGA 5/2020 lotto n°10) per la fornitura di materiale elettrico e di ferramenta a marchio Fluke.
