TEST&SHOW: Università La Sapienza
Roma, 3 Dicembre 2024, dalle ore 10:00 alle 16:00
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Test ad alta potenza On-Wafer con Wafer-Prober.
Applicazione IWATSU per la misurazione delle proprietà magnetiche AC.
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L’oscilloscopio portatile touchscreen Tektronix Serie 2 MSO è un punto di svolta per tutte le esigenze di test.
Il video del nostro webinar (53 minuti)
L’analisi dei guasti della microelettronica è uno dei principali metodi analitici applicati alla diagnosi dei problemi che si verificano con i dispositivi, sia nella fase di fabbricazione che nell’uso della relativa applicazione.
Utilizzando quattro SMU ed i test integrati, le misure van der Pauw sui materiali semiconduttori sono facilmente ottenute con l’analizzatore di parametri 4200A-SCS.
Utilizzando quattro SMU ed i test integrati, le misure van der Pauw sui materiali semiconduttori sono facilmente ottenute con l’analizzatore di parametri 4200A-SCS.
La ricerca sui materiali semiconduttori ed il test dei dispositivi spesso comporta la misura della resistività e della tensione di Hall di un campione.
È il momento di provare il nuovo software Keithley KickStart! Hai bisogno di un rapporto dettagliato sulle misurazioni? Vuoi tener traccia di tutte le tue misurazioni dal portatile?
Gli strumenti attualmente disponibili per osservare e registrare delle forme d’onda possono essere suddivisi in tre categorie: Oscilloscopi, Data logger e Memory HiCorder.
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