Diagnosi non invasive sui materiali per fuel cell: scopri come Hioki può aiutarti
Scopri tutte le potenzialità della strumentazione Hioki per i settori R&D o per chi si occupa della produzione di elettrolizzatori e celle per idrogeno verde.
Il centro di ricerca ENEA di Portici e la sua nuova Probe Station
Scopri la nostra consulenza per il centro di ricerca ENEA di portici: abbiamo individuato e installato tutto il necessario per le loro ricerche sui nuovi metamateriali.
TEST&SHOW: Università La Sapienza
Roma, 3 Dicembre 2024, dalle ore 10:00 alle 16:00
Curve Tracer IWATSU per la caratterizzazione dei dispositivi ad alta potenza
Test ad alta potenza On-Wafer con Wafer-Prober.
Analizzatore B-H SY8200 per la caratterizzazione delle proprietà magnetiche degli induttori, ad alta frequenza
Applicazione IWATSU per la misurazione delle proprietà magnetiche AC.
TEST & SHOW: richiedi il tuo laboratorio di prova gratuito
Richiedi gratuitamente il tuo Test & Show.
Tektronix 2 Series MSO: l’oscilloscopio che puoi portare ovunque
L’oscilloscopio portatile touchscreen Tektronix Serie 2 MSO è un punto di svolta per tutte le esigenze di test.
Controllare e programmare il banco di misura direttamente dal PC (registrazione video webinar 53 minuti)
Il video del nostro webinar (53 minuti)
Termografia lock-in per analisi dei guasti con Source Measure Unit Keithley
L’analisi dei guasti della microelettronica è uno dei principali metodi analitici applicati alla diagnosi dei problemi che si verificano con i dispositivi, sia nella fase di fabbricazione che nell’uso della relativa applicazione.
Misura del Coefficiente di Hall utilizzando il 4200A-SCS
Utilizzando quattro SMU ed i test integrati, le misure van der Pauw sui materiali semiconduttori sono facilmente ottenute con l’analizzatore di parametri 4200A-SCS.
Misura di Van der Pauw utilizzando il 4200A-SCS
Utilizzando quattro SMU ed i test integrati, le misure van der Pauw sui materiali semiconduttori sono facilmente ottenute con l’analizzatore di parametri 4200A-SCS.
Metodi di misura di resistività van der Pauw e di tensione di Hall utilizzando il test parameter Keithley 4200A-SCS
La ricerca sui materiali semiconduttori ed il test dei dispositivi spesso comporta la misura della resistività e della tensione di Hall di un campione.
