Tektronix 2 Series MSO: l’oscilloscopio che puoi portare ovunque
L’oscilloscopio portatile touchscreen Tektronix Serie 2 MSO è un punto di svolta per tutte le esigenze di test.
Termografia lock-in per analisi dei guasti con Source Measure Unit Keithley
L’analisi dei guasti della microelettronica è uno dei principali metodi analitici applicati alla diagnosi dei problemi che si verificano con i dispositivi, sia nella fase di fabbricazione che nell’uso della relativa applicazione.
Misura del Coefficiente di Hall utilizzando il 4200A-SCS
Utilizzando quattro SMU ed i test integrati, le misure van der Pauw sui materiali semiconduttori sono facilmente ottenute con l’analizzatore di parametri 4200A-SCS.
Misura di Van der Pauw utilizzando il 4200A-SCS
Utilizzando quattro SMU ed i test integrati, le misure van der Pauw sui materiali semiconduttori sono facilmente ottenute con l’analizzatore di parametri 4200A-SCS.
Metodi di misura di resistività van der Pauw e di tensione di Hall utilizzando il test parameter Keithley 4200A-SCS
La ricerca sui materiali semiconduttori ed il test dei dispositivi spesso comporta la misura della resistività e della tensione di Hall di un campione.
Keithley Kickstart Software
È il momento di provare il nuovo software Keithley KickStart! Hai bisogno di un rapporto dettagliato sulle misurazioni? Vuoi tener traccia di tutte le tue misurazioni dal portatile?
Data Acquisition e Data Recorder
Gli strumenti attualmente disponibili per osservare e registrare delle forme d’onda possono essere suddivisi in tre categorie: Oscilloscopi, Data logger e Memory HiCorder.
Noleggio strumentazione di misura con Giakova
Scopri tutti i vantaggi e fai una simulazione della rata.
I nostri esperti a disposizione per rispondere alle tue domande e per dimostrazioni dei prodotti
La nostra forza vendita si mette a disposizione per fornire, in teleconferenza, approfondimenti o demo live dei prodotti e delle soluzioni Giakova, con la formula one-to-one oppure a piccoli gruppi.
Caratterizzazione dei materiali
Caratterizzazione elettrica e termica di superconduttori, semiconduttori composti, materiali amorfi, ceramici avanzati e polimeri compositi, condotta con estrema accuratezza e ripetibilità.
Utilizzo della termocamera per le applicazioni in ricerca
La termografia in ambito di ricerca e sviluppo è utile per analizzare oggetti e soggetti in modo non invasivo e per acquisire informazioni termiche rapidamente e con grande accuratezza.
