Tektronix 2 Series MSO: l’oscilloscopio che puoi portare ovunque
L’oscilloscopio portatile touchscreen Tektronix Serie 2 MSO è un punto di svolta per tutte le esigenze di test.
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L’analisi dei guasti della microelettronica è uno dei principali metodi analitici applicati alla diagnosi dei problemi che si verificano con i dispositivi, sia nella fase di fabbricazione che nell’uso della relativa applicazione.
Utilizzando quattro SMU ed i test integrati, le misure van der Pauw sui materiali semiconduttori sono facilmente ottenute con l’analizzatore di parametri 4200A-SCS.
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La ricerca sui materiali semiconduttori ed il test dei dispositivi spesso comporta la misura della resistività e della tensione di Hall di un campione.
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Gli strumenti attualmente disponibili per osservare e registrare delle forme d’onda possono essere suddivisi in tre categorie: Oscilloscopi, Data logger e Memory HiCorder.
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Caratterizzazione elettrica e termica di superconduttori, semiconduttori composti, materiali amorfi, ceramici avanzati e polimeri compositi, condotta con estrema accuratezza e ripetibilità.
La termografia in ambito di ricerca e sviluppo è utile per analizzare oggetti e soggetti in modo non invasivo e per acquisire informazioni termiche rapidamente e con grande accuratezza.